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ICT测试原理

发布时间: 2021-12-21

ICT原理介绍:

一.隔离 ( Guarding )原理

隔离为ICT量测很重要的一种应用技术,乃是将待测零件相连接的零件给予隔离,使待测零件的量测不受影响,如下图所示,应用运算放大器设计之电压随耦器,使输出电压 ( VG )与其输入电压 ( VA )相等,及运算放大器之两输入端间虚地 ( Virtual Ground )的原理,使得与待测零件相连的零件之两端同电位,而不会产生分流来影响待测零件的量测,如同是已将将待测零件相连接的零件给予隔离。

经由隔离之实施后,流经R1的电流几近零,不致影响R之量测。

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由于VG=VA,因此I3=0

所以R1=V/I1

 

隔离 ( Guarding )基本原理图

 

 

定电流测量法

如下图所示,为被使用测量大电阻的测量法,乃是应用欧姆定律 ( Ohms Law )R = V / I,提供定电流源至待测电阻,再由其两端所量测之电压值,来计算待测电阻之阻值。

 

定电流/电压测量法

如下图所示,为常被使用之电阻的测量法,乃是应用反相放大器 ( Inverting Amplifier )原理:Vo = -Vi * Rf / R,计算出待测电阻Rdut= -Vi * Rf / Vi

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二.电容器的测试原理
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如上图所示应用运算放大器 ( OPA )之反相放大原理:Vo = -V * R / Xc,其中Xc =1/ ( 2pfC )乃电容所产生的电抗,f为交流定电压的频率,再以角加速度『w = 2pf』来代表,则可由公式:C = -Vo / ( V * w * R ),来计算出电容之值

 定电流测量 ( MODE C )

当电容值为10uF以上时,计算机会自动设定DC电容量测法。此法是用DC定电流来使待测电容充电,然后由充电的时间可算出电容值
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如上图所示由于在充电电压与其充电时间成线性关系,故可由其斜率,来计算出待测电容之值。

三.电感器的测试原理
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如上图所示应用运算放大器 ( OPA )之反相放大原理:Vo = -V * R / XL,其中XL = ( 2pfL )乃电感所产生的电抗,f为交流定电压的频率,再以角加速度『w = 2pf』来代表,则可由公式:L =- V * R  / (w * V0 ),来计算出电感之值。

四.普通二极管的测试方法 (MODE D)

二极管采用如下图所示之顺向电压测量法,来辨别二极管的好坏,正常的硅 ( Silicon )二极管之顺向电压约为0.7V,而锗 ( Germanium )二极管之顺向电压约为0.3V。

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五.晶体管的测量原理 ( 三端点 ) ( MODE TR )

晶体管的测量方法如下图从晶体管的基极 ( Base )送脉波电压,由于晶体管工作于饱和状态 ( Saturation Status )时集极与射极之间所测量的电压 ( Vce )会小于0.2V以下,因此可藉之来辨别晶体管的好坏。

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六.短/路的测试原理 ( Open/Short Test )

学习短路表 ( Learning Short Pin Group Table )

短/开路 (  Open/Short ) 的测试数据可由学习一个良品的电路板而得。当学习时计算机会测量任意两个测试点 ( Test point )之间的阻值然后产生一个短路表 ( Short Pin Group Table ),学习时,任意两点间的阻值小于20Ω(初使值)即被判定两点间为短路,否则为开路。

短/开路测试

短/开路测试是根据上述短路表的资料来做测试;先做短路测试 ( Short Test )再做断路测试 ( Open Test ),说明如下 

路测试是测试在同一短路群 ( Short Pin Group )里的每一测试点间 ( Test point )是否有断路现象判别开路的基准阻值是80Ω(初使值);也就是说任意二点间的阻值如果大于80Ω(初使值),则被判定为开路错误 ( Open Fail )

 

短路测试是测试任意一短路群的测试点和其它短路群的测试点之间是否有短路现象判别短路的基准是5Ω(初使值);也就是说如果任意两点间的阻值是小于5Ω(初使值),则被判定为短路错误 ( Short Fail )



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